中国科学技术大学特任研究员

报告摘要：

在三维空间获得材料本征原子位置信息并测量相关电子结构是微观尺度表征技术发展的终极目标之一。电子叠层重构的高剂量利用率、深度亚埃空间分辨率、高精准度等巨大优势有望成为三维原子尺度结构成像的通用技术，是国际电子显微领域的最前沿课题之一。然而该重构技术衬度传递机理尚不明确，存在重构假象、适用性较窄、可靠性略低等问题，阻碍了该技术在材料科学领域的广泛应用。针对上述问题，报告人提出了四维电子衍射大数据的几何标定算法以及约束式扫描位置修正方法，有效提升了电子叠层重构的适用性与可靠性，实现了二维材料等弱相位样品的高精准度电子叠层重构。报告人进一步探索了二维材料电子叠层重构的衬度传递机理，为实现对电子结构的精确解析提供了实验参考。

报告人简介：

宁守琮，中国科学技术大学物理学院特任研究员。2013年本科毕业于中国科学技术大学近代力学系，博士期间师从香港科技大学张统一院士，随后在新加坡国立大学Stephen Pennycook教授的指导下开展透射电镜成像与定量分析技术相关工作。宁守琮博士目前在Nature, Nature Communication, Nano Letters, ACS Nano, Ultramicroscopy，Microscopy and Microanalysis等杂志发表论文40余篇，他引2700余次，H因子21。

报告地点：M253

邀请人：陈震 特聘研究员 （82649878）